光学比较测角仪   比较测角仪    XQ60-ZI             XQ15-ZII

一、主要用途：

XQ60-ZI、XQ15-ZII光学比较测角仪结构简单，使用广泛，它是用比较的方法测定角度的良好仪器，它与标准件或角度块规比较可测量金属与光学零件的角度；测量导轨的直线性；测量零件部件的平行度；测量两个平面的垂直度。此外，还可以与多面体或角度块规组合使用进行分度测量等工作。

二、结构原理：

本仪器有如下几个部分组成：

1、带有标尺分划板的自准平行光管；

2、具有精密平面性的工作台；

3、支架；

4、照明设备；

1.光源      2.棱镜       3.分划板       4.物镜        5.反光镜      6.目镜

光 学 系 统 图

光源⑴经棱镜⑵照明分划板⑶上的反射刻尺，此分划板位于物镜⑷的焦点平面上，当光线被一块与光轴垂直的反光镜⑸反射回来后，在目镜⑹中可同时看到反射刻尺和固定刻尺的像。读得反射刻尺相对于固定刻尺的位移值，即为反光镜斜的角度。

三、技术数据：

四、仪器结构：

XQ60-ZI、XQ15-ZII光学测角比较仪结构示意图

 五、使用说明：

稳重的平台⑴（如前图）是整个仪器的基座，它既保证了光管⑵在任何位置情况下的稳定性，而且经过研磨后的平面是放置标准件和被测面的基准面。但当光管垂直平台使用时，它的表面也可以作为反射面。

松开手柄⑶可以使支架⑷在平台两边摆动，松开手柄⑸可使弯臂⑹在支架的支槽中上下移动和转动，光管又能在弯臂的孔中自由滑动，并能用手柄⑺将其固定于任何位置。

六、使用方法举例如下：

1、测量零件的平行度——首先应该用棉花和汽油或脱脂溶剂将平台工作面全部擦净。接通电源使光管的光轴相当的垂直于平台，此时目镜中可看到本身标尺和反射回来的垂直标尺。如无标尺像，可松开手柄⑸轻轻地将光管沿两侧方向推动。为了进一步将反射刻尺调正至与水平标尺平行相交，可利用螺钉⑻来调节。为了测量便利，常使反射回来的刻尺平行于平台的工作面的装支架的一边，为此松开螺钉⑼将目镜座旋转调节即可。然后将零件放上平台（其一边与垂直标尺平行）就可以读得该零件的平行度。由于两标尺是互相垂直的，所以被检零件的倾斜度可以在两个方向进行。

2、测量零件的角度——凡角度测量，须与标准角度块规或已知角度的零件同时使用。首先将角度块规放于平台，然后将光管的光轴倾斜置于标准块规的反射表面垂直，当获得反射回来的标尺形像后，可通过螺钉⑻将标尺调正至平行位置，然后换上被检查的零件，如零件的表面不足以使反射标尺较清晰时，可利用另一块规或斜度不大于3"、光洁度不低于▽▽▽▽12的反射板与被检零件的反射面紧密接触。

当零件相当大时，可以放在较大的平板上，在这样的情况下，测角仪若有可能的话，也可以放在同一平板上去。

七、仪器成套性：

1、60"或者15"测角仪主机                        1台

2、灯泡（机身中）                                   1只

3、充电头                                                 1只

4、平面反射镜（60mm）                        1块

5、使用说明书                                          1本

6、合格证                                                 1份

7、摄像头                                                 1只

8、显示屏                                                 1个